高精度溫度箱是根據(jù)用戶要求，參照GB2423[1].02高溫試驗方法、GB2423[1].01低溫試驗方法相應(yīng)技術(shù)條件制造。可為顧客測試、檢測及試驗電子電工元器件、零配件或相關(guān)工業(yè)行業(yè)的實驗部門提供一個人工模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性（可重復(fù)）提供條件。

高精度溫度箱的技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)尺寸：1000×1000×800（D×W×H）。

溫度范圍： A:0～150℃；B:-20～150℃；；C:-40～150℃；D:-60～150℃

溫度波動度：≤±0.5℃；溫度均勻度：≤2.0℃。

升溫速度：1.0～3.0℃/min；降溫速率：0.7～1.2℃/min。

電  源:單相AC220V；功率約5kw

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》。

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。