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高溫高濕高壓老化箱，通常也稱(chēng)為高壓加速壽命試驗(yàn)箱或HAST，是一種利用高溫、高濕度和高氣壓環(huán)境，來(lái)加速電子產(chǎn)品、材料、化工品等失效過(guò)程的可靠性測(cè)試設(shè)備。
它的核心目的是在極短的時(shí)間內(nèi)，模擬出產(chǎn)品在自然環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間使用后可能出現(xiàn)的退化現(xiàn)象，從而評(píng)估產(chǎn)品的壽命和可靠性。
創(chuàng)造嚴(yán)苛環(huán)境：通過(guò)電加熱器加熱、鍋爐產(chǎn)生純凈蒸汽加濕，并在密閉空間內(nèi)通過(guò)加壓系統(tǒng)（如空氣壓縮機(jī)）將環(huán)境壓力提升到標(biāo)準(zhǔn)大氣壓以上（常見(jiàn)如 1.2 atm ~ 2.5 atm 或更高）。
加速失效：高溫使材料分子運(yùn)動(dòng)加劇，高濕度使水汽更容易滲透到材料內(nèi)部，而高氣壓則進(jìn)一步極大地提高了水汽的滲透能力和飽和度。這三者結(jié)合，能極其有效地誘發(fā)諸如：
金屬腐蝕（特別是芯片封裝內(nèi)部的鍵合線）
封裝樹(shù)脂水解
電遷移
離子遷移（導(dǎo)致電路短路）
涂層起泡、剝落
時(shí)間壓縮：通過(guò)這種強(qiáng)化應(yīng)力，可能需要在自然環(huán)境下數(shù)年才會(huì)出現(xiàn)的失效模式，在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾十到幾百小時(shí)內(nèi)就能被激發(fā)出來(lái)，實(shí)現(xiàn)了時(shí)間的“壓縮"。
這是一個(gè)非常關(guān)鍵的區(qū)分點(diǎn)：
| 特性 | 高溫高濕高壓老化箱 | 普通恒溫恒濕箱 |
|---|---|---|
| 壓力 | 高于大氣壓 (核心區(qū)別) | 常壓 (與外界大氣壓相同) |
| 濕度 | 可達(dá) 100% RH 甚至 過(guò)飽和（因高壓） | 通常 20% ~ 98% RH |
| 溫度 | 通常 105℃ ~ 150℃ | 通常 -70℃ ~ +150℃ |
| 測(cè)試目的 | 加速老化，激發(fā)缺陷，主要用于可靠性評(píng)定和壽命評(píng)估 | 適應(yīng)性測(cè)試，性能驗(yàn)證，存儲(chǔ)模擬 |
| 測(cè)試速度 | 極快，時(shí)間壓縮比很高 | 較慢，接近真實(shí)時(shí)間流速 |
| 典型標(biāo)準(zhǔn) | JESD22-A110 (HAST), JESD22-A101 (THB) | IEC 60068-2-78, IEC 60068-2-30 |
簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)：普通恒溫恒濕箱是“模擬環(huán)境"，而高壓老化箱是“強(qiáng)化和加速環(huán)境"以達(dá)到快速老化的目的。
半導(dǎo)體行業(yè)：最核心的應(yīng)用領(lǐng)域。用于測(cè)試芯片、集成電路的封裝可靠性、抗潮濕能力（耐濕性），評(píng)估其壽命。
PCB/PCBA行業(yè)：測(cè)試電路板、焊點(diǎn)、敷形涂層在濕熱條件下的性能。
電子元器件：電阻、電容、電感、連接器等元器件的可靠性驗(yàn)證。
新材料研發(fā)：評(píng)估新型高分子材料、復(fù)合材料、納米材料等在濕熱壓力下的穩(wěn)定性和壽命。
汽車(chē)電子：汽車(chē)電子元件需要高的可靠性，必須通過(guò)此類(lèi)嚴(yán)苛測(cè)試。
航空航天：對(duì)在高壓高濕環(huán)境下使用的部件進(jìn)行資格認(rèn)證。
溫度范圍：通常 105℃ ~ 150℃（甚至更高）
濕度范圍：100% RH 至 過(guò)飽和狀態(tài)
壓力范圍：常用 0.2 kgf/cm2 ~ 2.0 kgf/cm2 或更高（表壓）
升溫/降溫時(shí)間：從常溫升至設(shè)定溫度所需的時(shí)間。
溫濕度均勻度：工作室內(nèi)部各點(diǎn)溫濕度的差異，越小越好。
控制精度：對(duì)溫度、濕度、壓力的控制精確程度。
內(nèi)膽材質(zhì)：通常采用高級(jí)不銹鋼，如 SUS304 或 SUS316，耐腐蝕。
JESD22-A110：JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的 HAST，是常用的標(biāo)準(zhǔn)。
JESD22-A101：穩(wěn)態(tài)濕熱壽命測(cè)試，通常是在 85℃/85%RH 下進(jìn)行，是另一種常見(jiàn)的可靠性測(cè)試，但不如HAST快。
IEC 60068-2-66：國(guó)際電工委員會(huì)的 試驗(yàn) Cab： 恒定濕熱測(cè)試。
MIL-STD-883：美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)中也有相關(guān)的測(cè)試方法。
高溫高濕高壓老化箱是現(xiàn)代制造業(yè)，尤其是電子制造業(yè)中保證產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵工具。它通過(guò)創(chuàng)造一個(gè)遠(yuǎn)超正常條件的環(huán)境，幫助工程師快速發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷、篩選劣質(zhì)品、預(yù)測(cè)產(chǎn)品壽命，從而節(jié)省大量的研發(fā)和時(shí)間成本，并最終向市場(chǎng)提供更耐用、更可靠的產(chǎn)品。
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